可程式恒溫恒濕試驗箱的可靠性測試分析篇上

可程式恒溫恒濕試驗箱的可靠性測試分析篇上

80L高低溫箱上述環(huán)境試驗的相關國家標準如下（部分試驗可能沒有相關國標，或者是我還沒有找到）：
1、低溫試驗
按GB/T2423.1—89《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法低溫試驗》
GB/T2423.22—87《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法溫度變化試驗方法》
進行低溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍：-70℃～10℃。
2、高溫試驗
按GB/T2423.2—89《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法高溫試驗》
GB/T2423.22—87《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法溫度變化試驗方法》
進行高溫試驗及溫度變化試驗。
溫度范圍：10℃～210℃
3、濕熱試驗
按GB/T2423.3—93《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法恒定濕熱試驗》
GB/T2423.4—93《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法交變濕熱試驗》
進行恒定濕熱試驗及交變濕熱試驗。
濕度范圍：30%RH～100%RH
4、霉菌試驗
按GB/T2423.16—90《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法長霉試驗》進行霉菌試驗。
5、鹽霧試驗
按GB/T2423.17—93《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法鹽霧試驗》進行鹽霧試驗。
6、低氣壓試驗
按GB/T2423.21—92《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法低氣壓試驗》；
GB/T2423.25—92《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法低溫/低氣壓試驗》；
GB/T2423.26—92《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法高溫/低氣壓試驗》；
進行低氣壓試驗，高、低溫/低氣壓試驗。試驗范圍：-70℃～100℃0～760mmHg20%～95%RH。
7、振動試驗
按GB/T2423.10—95《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法振動試驗》進行振動試驗。
頻率范圍（機械振動臺）：5～60Hz（定頻振動5～80Hz），最大位移振幅3.5mm（滿載）。頻率范圍（電磁振動臺）：5～3000Hz，最大位移25mmP-P。
8、沖擊試驗
按GB/T2423.5—95《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法沖擊試驗》進行沖擊試驗。沖擊加速度范圍：（50～1500）m/s2。
9、碰撞試驗
按GB/T2423.6—95《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法碰撞試驗》進行碰撞試驗。
10、跌落試驗
按GB/T2423.7—95《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法傾跌與翻到試驗》；
GB/T2423.8—95《電工電子產品環(huán)境試驗第二部分：試驗方法自由跌落試驗》進行跌落試驗。
說明：上面13項比較全面地概括了產品在實現使用過程中碰到的外界環(huán)境；實際測試時，因為各產品本身屬性的相差較遠、使用環(huán)境相差也很大，各公司可以根據產品的特點，適當選取、增加一些項目來測試（此產品對應的國/行標中要求的必測試項目，當然是必須測試的）；也可以根據產品特定的使用環(huán)境與使用方法，自行設計一些新測試項目，以驗證產品是否能長期工作。

可程式恒溫恒濕試驗箱使用方法的誤區(qū)

   當可程式恒溫恒濕試驗箱完成低溫運轉時，最好溫度在60℃時實行干燥處理約30分鐘后再打開箱門，以免影響后面試驗時的測定時間或造成蒸發(fā)器結冰的現象；
   在可程式高低溫試驗機操作時，除非在萬不得已必須要打開的情況下，否則請不要隨便打開箱門，否則可能會造成以下不良后果：
   箱門內側仍然保持高溫，高溫空氣可能觸發(fā)火災警報而造成失誤，高溫濕氣沖出箱外，實驗過程中開關箱體對壓縮機存在一定的損壞，除非試驗要求，不然不建議客戶在實驗過程中頻繁開關。
    使用恒溫恒濕箱時 一定要保證是安全確實的接地，以免產生靜電感應；電路斷路器和超溫保護器這種提供測試品以及操作者人身安全的保護設備，一定要定期進行詳細的檢查；濕球紗布的安裝位置一定要準確，才能量取正確的相對濕度；箱體在運轉中，請勿以手觸檢查，以免觸電或被風扇所傷從而發(fā)生危險；
     非本機工作人員不可對高低溫濕熱試驗箱器進行維修和檢查。并且在檢查時，除了有專職人員進行之外，同時還要有專業(yè)的電工及電路檢修人員，防止不知情的人員進行通電合閘，從而造成觸電危險。

文章來源:東莞恒工設備有限公司    業(yè)務聯系：潘先生  13602359728