環(huán)境試驗設(shè)備中國可靠性國家標準

環(huán)境試驗設(shè)備中國可靠性國家標準

中國可靠性國家標準
GB/T 15174-1994 可靠性增長大綱　 
GB/T 7289-1987 可靠性、維修性與有效性預(yù)計報告編寫指南　 
GB/T 3187-1994 可靠性、維修性術(shù)語　 　 　 
GB/T 7826-1987 系統(tǒng)可靠性分析技術(shù) 失效模式和效應(yīng)分析（FMEA）程序　 
GB/T 7827-1987 可靠性預(yù)計程序
GB/T 7828-1987 可靠性設(shè)計評審
GB/T 7829-1987 故障樹分析程序
GB/T 4888-1985 故障樹名詞術(shù)語和符號　 　 　 
GB/T 5329-1985 試驗篩與篩分試驗 術(shù)語　 
GB 4793.1-1995 測量、控制和試驗室用電氣設(shè)備的安全要求 第1部分: 通用要求　 
GB/T 2689.1-1981 恒定應(yīng)力壽命試驗和加速壽命試驗方法總則　 
GB/T 2689.2-1981 壽命試驗和加速壽命試驗的圖估計法 （用于威布爾分布）　 
GB/T 2689.3-1981 壽命試驗和加速壽命試驗的簡單線性無偏估計法 （用于威布爾分布）　 
GB/T 2689.4-1981 壽命試驗和加速壽命試驗的zui好線性無偏估計法 （用于威布爾分布）　 GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧氣加速老化試驗方法　 
GB/T 9586-1988 熒光數(shù)碼顯示管加速壽命試驗方法　 
GB/T 5170.1-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 總則　 
GB/T 5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗設(shè)備　 
GB/T 5170.5-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 濕熱試驗設(shè)備　 
GB/T 5170.8-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 鹽霧試驗設(shè)備　 
GB/T 5170.9-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 太陽輻射試驗設(shè)備
GB/T 5170.10-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 高低溫低氣壓試驗設(shè)備
GB/T 5170.11-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 腐蝕氣體試驗設(shè)備
GB 5170.13-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動 （正弦） 試驗用機械振動臺
GB 5170.14-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動 （正弦） 試驗用電動振動臺　 
GB 5170.15-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 振動 （正弦） 試驗用液壓振動臺
GB 5170.16-1985 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 恒加速度試驗用離心式試驗機　 
GB 5170.17-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 低溫/低氣壓/濕熱綜合順序試驗設(shè) 
GB 5170.18-1987 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/ 濕度組合循環(huán)試驗設(shè)備　 
GB 5170.19-1989 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度/ 振動 （正弦） 綜合試驗設(shè)備 
GB 5170.20-1990 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 水試驗設(shè)備　 
GB 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 A: 低溫試驗方法　 
GB 2423.16-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗J:長霉試驗方法　 
GB 2423.18-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kb: 交變鹽霧試驗方法 （氯化鈉溶液）　 
GB 2423.19-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kc: 接觸點和連接件的二氧化硫試驗方法　 
GB 2423.20-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kd: 接觸點和連接件的硫化氫試驗方法　 
GB 2423.21-1991 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 M: 低氣壓試驗方法
GB 2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 B: 高溫試驗方法　 
GB 2423.22-1987 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗N:溫度變化試驗方法
GB 2423.27-1981 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AMD:低溫/ 低氣壓 /濕熱連續(xù)綜合試驗方 
GB 2423.28-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗T:錫焊試驗方法　 
GB 2423.29-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗U:引出端及整體安裝強度
GB 2423.30-1982 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗XA: 在清洗劑中浸漬　 
GB 2423.31-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 傾斜和搖擺試驗方法
GB 2423.32-1985 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 潤濕稱量法可焊性試驗方法
GB 2423.33-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Kca:高濃度二氧化硫試驗方法
GB 2423.34-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AD: 溫度/ 濕度組合循環(huán)試驗方法
GB 2423.35-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AFc:散熱和非散熱試驗樣品的低溫/ 振動（ 
GB 2423.36-1986 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BFc:散熱和非散熱樣品的高溫/ 振動（正弦 
GB 2423.37-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 L: 砂塵試驗方法　 
GB 2423.38-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 R: 水試驗方法　 
GB 2423.39-1990 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ee: 彈跳試驗方法　 
GB 2423.9-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Cb: 設(shè)備用恒定濕熱試驗方法
GB/T 2423.10-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Fc和導則: 振動（正弦）　 
GB/T 2423.11-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fd: 寬頻帶隨機振動 一般要求　 
GB/T 2423.12-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fda: 寬頻帶隨機振動 高再現(xiàn)性 
GB/T 2423.13-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdb: 寬頻帶隨機振動 中再現(xiàn)性 
GB/T 2423.14-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fdc: 寬頻帶隨機振動 低再現(xiàn)性 
GB/T 2423.15-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Ga和導則: 穩(wěn)態(tài)加速度GB/T 2423.17-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ka: 鹽霧試驗方法　 
GB/T 2423.23-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 試驗Q:密封　 
GB/T 2423.24-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Sa: 模擬地面上的太陽輻射
GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM: 低溫／低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.26-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/BM: 高溫／低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法　 
GB/T 2423.40-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Cx:未飽和高壓蒸汽恒定濕熱　 
GB/T 2423.41-1994 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 風壓試驗方法　 
GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db: 交變濕熱試驗方法　 
GB/T 2423.42-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 低溫/低氣壓/振動（正弦）綜合試驗方法　 
GB/T 2423.43-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 元件、設(shè)備和其他產(chǎn)品在沖擊（Ea） 
GB/T 2423.44-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Eg: 撞擊 彈簧錘
GB/T 2423.45-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Z/ABDM：氣候順序
GB/T 2423.46-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ef：撞擊 擺錘
GB/T 2423.47-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fg: 聲振　 
GB/T 2423.48-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Ff: 振動—時間歷程法
GB/T 2423.49-1997 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分: 試驗方法 試驗Fe: 振動—正弦拍頻法
GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Ea和導則: 沖擊
GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Eb和導則： 碰撞
GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Ec和導則: 傾跌與翻倒 （主要用 
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Ed: 自由跌落　 儀器卷 
GB/T 2423.18-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗 試驗Kb：鹽霧，交變（氯化鈉溶液）
GB/T 2423.25-1992 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Z/AM: 低溫／低氣壓綜合試驗
GB/T 2423.51-2000 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Ke：流動混合氣體腐蝕試驗　 開關(guān)電器、旋轉(zhuǎn)電機、電線電纜卷 
GB/T 2423.1-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 A: 低溫試驗方法　 
GB/T 2423.16-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗J和導則：長霉
GB/T 2423.2-1989 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗 B: 高溫試驗方法　 
GB/T 2423.29-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗U:引出端及整體安裝件強度　 
GB/T 2423.30-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗XA和導則:在清洗劑中浸漬　 
GB/T 2423.3-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca:恒定濕熱試驗方法　 
GB/T 2423.4-1993 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db: 交變濕熱試驗方法
GB/T 2423.50-1999 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗Cy:恒定濕熱主要用于元件的加 
GB/T 2423.5-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分：試驗方法 試驗Ea和導則: 沖擊
GB/T 2423.6-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Eb和導則： 碰撞
GB/T 2423.7-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Ec和導則: 傾跌與翻倒 （主要用
GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第二部分: 試驗方法 試驗Ed: 自由跌落